חיפוש חדש  חזור
מידע אישי לתלמיד

שנה"ל תשע"ה

  מיקרוסקופית אלקטרונים סורק (sem)
  Scanning Electron Microscopy  
0581-5332-01
הנדסה | תואר שני - מדע והנדסת חומרים
סמ'  ב'1500-1700207 הנדסה כתות חשיעור ד"ר ברקאי סלוצקי זהבה
ש"ס:  2.0

סילבוס מקוצר
משקל: 2
רקע למיקרוסקופית אלקטרונים בסריקה. אינטרקציה של אלומת אלקטרונים בחומר: מודלים לאינטרקציה אלסטית ואינאלסטית, סימולצית מונטה-קרלו לאינטראקציה. תכונות של האותות הראשיים המתקבלים ומיקרואנאליזה באמצעות קרינת .X אופטיקה של קרן האלקטרונים: מקורות אלקטרונים, עדשות מגנטיות ואברציות. עקרון יצירת תמונה. סוגי מיקרוסקופים אלקטרונים סורקים כולל ESEM ושיטות אפיון חדישות. אספקטים פרקטיים לעבודת SEM ואפליקציות מגוונות.
הערה: השיעור מהווה דרישת קדם למעבדה (קורס נפרד) שתבוצע בשליש האחרון של הסמסטר.
 
Course description
Credit Points: 2
 
Background to scanning electron microscopy (SEM). Electron-specimen interaction: models for elastic and inelastic interaction, Monte-Carlo simulation for electron-specimen interaction. Properties of main signals and X-ray microanalysis. Electron optics: electron sources, magnetic lenses and aberrations. Principles of image formation. Various SEM types including ESEM and advanced methods. Practical SEM aspects and various applications.
Note: the SEM laboratory course follows the SEM course and takes place at the third part of the semester.
 
 
 

להצהרת הנגישות


אוניברסיטת ת