חיפוש חדש  חזור
מידע אישי לתלמיד

שנה"ל תש"ף

  מיקרוסקופית אלקטרונים סורקים (sem)
  Scanning Electron Microscopy  
0581-5332
הנדסה | תואר שני - מדע והנדסת חומרים
קבוצה 01
סמ'  ב'1500-1700008 הנדסה כתות חשיעור ד"ר ברקאי סלוצקי זהבה
דרישות קדם   רשימת התפוצה  
הקורס מועבר באנגלית
ש"ס:  2.0

סילבוס מקוצר

משקל: 2
רקע למיקרוסקופית אלקטרונים בסריקה (SEM). אינטרקציה של אלומת אלקטרונים בחומר: מודלים לאינטרקציה אלסטית ואינאלסטית, סימולצית מונטה-קרלו לאינטראקציה. תכונות של האותות הראשיים המתקבלים ומיקרואנאליזה באמצעות קרינת .X אופטיקה של קרן האלקטרונים: מקורות אלקטרונים, עדשות מגנטיות ואברציות. עקרון יצירת תמונה. סוגי מיקרוסקופים אלקטרונים סורקים כולל ESEM ושיטות אפיון חדישות כולל Electron Backscattered Diffraction. אספקטים פרקטיים לעבודת SEM ואפליקציות מגוונות.
הערה: השיעור מהווה דרישת קדם למעבדה (קורס נפרד) שתבוצע בשליש האחרון של הסמסטר.

Course description

Credit Points: 2
Background to scanning electron microscopy (SEM). Electron-specimen interaction: models for elastic and inelastic interaction, Monte-Carlo simulation for electron-specimen interaction. Properties of main signals and X-ray microanalysis. Electron optics: electron sources, magnetic lenses and aberrations. Principles of image formation. Various SEM types including ESEM and advanced methods including Electron Backscattered Diffraction. Practical SEM aspects and various applications.

Note: the SEM laboratory course follows the SEM course and takes place at the third part of the semester.

להצהרת הנגישות


אוניברסיטת ת 1