 שנה"ל תשע"ז | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
 |
 |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
מעבדה במקרוסקופית אלקטרונים חודרים Tem
Laboratory in Transmission Electron Microscopy |
0581-5234-01 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| הנדסה | תואר שני - מדע והנדסת חומרים | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
ש"ס: 1.0
סילבוס מקוצר
תשתית המעבדה, כיוון ותפעול המיקרוסקופ, אופטיקת אלקטרונים, דיפרקציית גביש יחיד ורב-גביש, יצירת קונטרסט שדה בהיר ואפל (bright field, dark field), קונטרסט פאזה (high resolution phase contrast). עיבוד התוצאות.