חיפוש חדש  חזור
מידע אישי לתלמיד

שנה"ל תשע"ז

  מיקרוסקופית אלקטרונים חודרים Tem
  Transmission Electron Microscopy                                                                     
0581-5233-01
הנדסה | תואר שני - מדע והנדסת חומרים
סמ'  א'1500-1800205לימודי הנדסה - כיתותשיעור פרופ כהן עמית
ש"ס:  2.0

סילבוס מקוצר

רקע, אופטיקת אלקטרונים (מקורות, עדשות, גלאים), דיפרקציית אלקטרונים, מנגנוני קונטרסט (דיפרקצייה, פאזה, מסה-עובי) הולוגרפיית אלקטרונים, STEM ומנגנוני קונטרסט, שיטות אנליטיות ב TEM: EELS, EDS, הכנת דגמים.

להצהרת הנגישות


אוניברסיטת ת