 שנה"ל תשע"ג | |||||||||||||||||||||||||
 |
 |
||||||||||||||||||||||||
|
אפיון ננומטרי של חומרים והתקנים אלקטרוניים
Nanoscale Characterization of Materials and Devices |
0510-7705-01 | ||||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| הנדסה | ביה"ס להנדסת חשמל | |||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||
סילבוס מקוצר
משקל: 2
מיקרוסקופים סורקים, מיקרוסקופ מינהור (STM): היסטוריה ורקע תאורטי, מיכשור, הדמיה טופוגרפית, ספקטרוסקופיה בעזרת STM. מיקרוסקופ כח אטומי (AFM): רכיבי הכוחות, מדידה במגע, ללא מגע ובנקישה, מיכשור. מדידות חשמליות באמצעות מיקרוסקופ כח אטומי: כוחות חשמליים, מדידת קיבול, מדידת התנגדות, מיקרוסקופ כח קלווין, שימושים. מיקרוסקופ אופטי של שדה קרוב (NSOM), שילוב מיקרוסקופ אופטי של שדה קרוב ומיקרוסקופ כח אטומי.
ננוליטוגרפיה וננוטכנולוגיה: שיטות כימיות, מכניות, חשמליות. ייצור חיישנים.
הקורס יינתן בשפה האנגלית
הקורס יינתן בשפה האנגלית