קבוצה 01 |
 |
 |
 |
 |
 |
 |
 |
סמ' א' | 1200-1400 | 'א | 005 | | שיעור | פרופ בר-אלי קדמה |
סמ' א' | 1200-1300 | 'ב | 005 | | שיעור | |
הצג סילבוס
הסתר סילבוס
|
D:\Inetpub\shared\yedion\syllabus\03\2011\0351\0351111001_desc.txt סילבוס מקוצר חישובים בכימיה – מסה, ריכוז, צפיפות, מול, מספר אבוגדרו, ספרות ערך, דיוק במדידות, משוואת תגובה כימית וסטויכיומטריה + חישובי תגובות מסוגים שונים – בעיקר בתמיסות, איזון משוואות חמצון חיזור, פוטנציאלי חיזור,תאים אלקטרוכימיים – משוואת נרנסט, אלקטרוליזה ושיטות אלקטרוכימיות, חומצות ובסיסים – הגדרות, הפרוטון המומס, שיווי משקל וקבועי פירוק, pH, חומצות ובסיסים חזקים וחלשים, , עקרון לה-שטליה, המשך קבוע פירוק חומצות ובסיסים חלשים, חומצות רב-פרוטיות , טיטרציות חומצה בסיס, אפקט יון משותף בחומצות ובסיסים, בופרים, מסיסות ו kSP, קבוע קומפלקסציה, אפקט יון משותף, קומפלקסומטריה, טיטרציות EDTA, קונדוקטומטריה- חוק אוהם, מדידת הולכה והתנגדות בתמיסות – מוליכות אקויולנטית, מוליכות במיהול אינסופי וסופי, מדידה קונדוקטומטרית של קבוע התפרקות של חומצה חלשה, טיטרציות פוטנציומטריות , ספקטרופוטומטריה - חוק בר-למבר, ספקטרופוטומטר, פוטומטריית להבה + שיטות כיול , כרומטוגרפיה . סילבוס מפורט/דף מידע שבוע 1 - חישובים בכימיה – מסה, ריכוז, צפיפות, מול, מספר אבוגדרו, ספרות ערך, דיוק במדידות
שבוע 2 - משוואת תגובה כימית וסטויכיומטריה + חישובי תגובות מסוגים שונים – בעיקר בתמיסות
שבוע 3 - איזון משוואות חמצון חיזור, פוטנציאלי חיזור
שבוע 4 – תאים אלקטרוכימיים – משוואת נרנסט
שבוע 5 – אלקטרוליזה ושיטות אלקטרוכימיות
שבוע 6 – חומצות ובסיסים – הגדרות, הפרוטון המומס, שיווי משקל וקבועי פירוק, pH, חומצות ובסיסים חזקים וחלשים, , עקרון לה-שטליה
שבוע 7 – המשך קבוע פירוק חומצות ובסיסים חלשים, חומצות רב-פרוטיות , טיטרציות חומצה בסיס
שבוע 8 – אפקט יון משותף בחומצות ובסיסים, בופרים
שבוע 9 - מסיסות ו kSP, קבוע קומפלקסציה, אפקט יון משותף
שבוע 10 – קומפלקסומטריה, טיטרציות EDTA
שבוע 11- קונדוקטומטריה- חוק אוהם, מדידת הולכה והתנגדות בתמיסות – מוליכות אקויולנטית, מוליכות במיהול אינסופי וסופי, מדידה קונדוקטומטרית של קבוע התפרקות של חומצה חלשה
שבוע 12- טיטרציות פוטנציומטריות
שבוע 13 - ספקטרופוטומטריה - חוק בר-למבר, ספקטרופוטומטר, פוטומטריית להבה + שיטות כיול
שבוע 14 - כרומטוגרפיה
|
קבוצה 02 |
 |
 |
 |
 |
 |
 |
 |
סמ' א' | 0800-1000 | 'ב | 315 | רב תחומי הנדסה ומדוייקים | תרגיל | מר מעוז בן מאיר |
הצג סילבוס
הסתר סילבוס
|
D:\Inetpub\shared\yedion\syllabus\03\2011\0351\0351111002_desc.txt סילבוס מקוצר חישובים בכימיה – מסה, ריכוז, צפיפות, מול, מספר אבוגדרו, ספרות ערך, דיוק במדידות, משוואת תגובה כימית וסטויכיומטריה + חישובי תגובות מסוגים שונים – בעיקר בתמיסות, איזון משוואות חמצון חיזור, פוטנציאלי חיזור,תאים אלקטרוכימיים – משוואת נרנסט, אלקטרוליזה ושיטות אלקטרוכימיות, חומצות ובסיסים – הגדרות, הפרוטון המומס, שיווי משקל וקבועי פירוק, pH, חומצות ובסיסים חזקים וחלשים, , עקרון לה-שטליה, המשך קבוע פירוק חומצות ובסיסים חלשים, חומצות רב-פרוטיות , טיטרציות חומצה בסיס, אפקט יון משותף בחומצות ובסיסים, בופרים, מסיסות ו kSP, קבוע קומפלקסציה, אפקט יון משותף, קומפלקסומטריה, טיטרציות EDTA, קונדוקטומטריה- חוק אוהם, מדידת הולכה והתנגדות בתמיסות – מוליכות אקויולנטית, מוליכות במיהול אינסופי וסופי, מדידה קונדוקטומטרית של קבוע התפרקות של חומצה חלשה, טיטרציות פוטנציומטריות , ספקטרופוטומטריה - חוק בר-למבר, ספקטרופוטומטר, פוטומטריית להבה + שיטות כיול , כרומטוגרפיה .
|
קבוצה 03 |
 |
 |
 |
 |
 |
 |
 |
סמ' א' | 1600-1800 | 'ה | 111 | אורנשטיין - כימיה | תרגיל | גב' איווניר הדר |
הצג סילבוס
הסתר סילבוס
|
D:\Inetpub\shared\yedion\syllabus\03\2011\0351\0351111003_desc.txt סילבוס מקוצר חישובים בכימיה – מסה, ריכוז, צפיפות, מול, מספר אבוגדרו, ספרות ערך, דיוק במדידות, משוואת תגובה כימית וסטויכיומטריה + חישובי תגובות מסוגים שונים – בעיקר בתמיסות, איזון משוואות חמצון חיזור, פוטנציאלי חיזור,תאים אלקטרוכימיים – משוואת נרנסט, אלקטרוליזה ושיטות אלקטרוכימיות, חומצות ובסיסים – הגדרות, הפרוטון המומס, שיווי משקל וקבועי פירוק, pH, חומצות ובסיסים חזקים וחלשים, , עקרון לה-שטליה, המשך קבוע פירוק חומצות ובסיסים חלשים, חומצות רב-פרוטיות , טיטרציות חומצה בסיס, אפקט יון משותף בחומצות ובסיסים, בופרים, מסיסות ו kSP, קבוע קומפלקסציה, אפקט יון משותף, קומפלקסומטריה, טיטרציות EDTA, קונדוקטומטריה- חוק אוהם, מדידת הולכה והתנגדות בתמיסות – מוליכות אקויולנטית, מוליכות במיהול אינסופי וסופי, מדידה קונדוקטומטרית של קבוע התפרקות של חומצה חלשה, טיטרציות פוטנציומטריות , ספקטרופוטומטריה - חוק בר-למבר, ספקטרופוטומטר, פוטומטריית להבה + שיטות כיול , כרומטוגרפיה .
|