הקורס מתמקד בשיטות ספקטרוסקופיות לאנאליזת חומרים כגון:

Auger Electron Spectroscopy (AES) and X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS or ESCA).

הקורס כולל אנליזה איכותית וכמותית להרכב פני שטח של החומרים, קבלת פרופיל עומק, מכשור מדידה והדגמתו במעבדת XPS/AES במרכז וולפסון למחקר שימושי בחומרים. כמו כן תינתן סקירה כללית לטכניקות שונות באנאליזת חומרים: SIMS, TOF-SIMS, RBS.

המעבדה תכלול הדגמה מעשית לנושאים הנלמדים בקורס. הקורס הפרונטלי מהווה דרישת קדם למעבדה.