שעות: 2 ש"ס (קורס פרונטלי), 1 ש"ס (מעבדה)
הקורס מתמקד בשיטות ספקטרוסקופיות לאנאליזת חומרים כגון:
Auger Electron Spectroscopy (AES) and X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS or ESCA).
הקורס כולל אנליזה איכותית וכמותית להרכב פני שטח של החומרים, קבלת פרופיל עומק, מכשור מדידה והדגמתו במעבדת XPS/AES במרכז וולפסון למחקר שימושי בחומרים. כמו כן תינתן סקירה כללית לטכניקות שונות באנאליזת חומרים: SIMS, TOF-SIMS, RBS.
המעבדה תכלול הדגמה מעשית לנושאים הנלמדים בקורס. הקורס הפרונטלי מהווה דרישת קדם למעבדה.