0581-5235-01/0581-5236-01: ניתוח חומרים בעזרת שיטות ספקטרוסקופיות חדישות:

Auger Electron Spectroscopy (AES)

and X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS or ESCA)

משקל: 2 או 3 נקודות

 2 נקודות - עבור קורס בלבד , 3 נקודות -  עבור קורס ומעבדה ביחד.

המעבדה תתקיים  כהמשך הקורס, 4 שבועות האחרונים של הסמסטר. הרשמה למעבדה - ע"י ד"ר לריסה  בורשטיין בלבד, בהרצאה  מס' 3.

להשתתפות במעבדה חובה:

1. נוכחות בכל ההרצאות
2. מכתב-בקשה ב-e-mail לד"ר בורשטיין מן המנחה של הסטודנט המוכיח חובה בשימוש המדידות AES/XPS עבור מחקרו של הסטודנט

הקורס מתמקד בשיטות ספקטרוסקופיות לאנאליזת חומרים כגון:

  Auger Electron Spectroscopy (AES)

X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS or ESCA).

הקורס כולל אנליזה איכותית וכמותית להרכב פני שטח של החומרים, קבלת פרופיל עומק, מכשור מדידה והדגמתו במעבדת AES/XPS במרכז וולפסון למחקר שימושי בחומרים. כמו כן תינתן סקירה כללית לטכניקות שונות באנאליזת חומרים:

 SIMS, TOF-SIMS, RBS

המעבדה תכלול הדגמה מעשית לנושאים  הנלמדים בקורס.

ספרי לימוד:

1. “Surface Science Techniques”, edited by J.M. Walls and R. Smith,

1994 (Reprinted from Vacuum, vol. 45 (6/7)).

2. “Methods of Surface Analysis. Techniques and Applications”, edited by J.M. Walls, 1989.