 שנה"ל תש"ף | |||||||||||||||||||||||||||||||||
 |
 |
||||||||||||||||||||||||||||||||
|
מעבדה במיקרוסקופית אלקטרונים חודרים אנליטית לאיפיון חומרים Tem
Laboratory in ATEM for Characterzaion of Materals |
0581-5234 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| הנדסה | תואר שני - מדע והנדסת חומרים | |||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||
ש"ס: 1.0
סילבוס מקוצר
0581-5234-01
מעבדה במקרוסקופית אלקטרונים בחדירה TEM אנליטית לאפיון חומרים
Laboratory in Analytical Transmission Electron Microscopy for Characterization of Materials
תשתית המעבדה, כיוון ותפעול המיקרוסקופ ב STEM לעומת TEM, אופטיקת אלקטרונים; קונטרסט שדה חשוך (dark field) ב STEM. ספקטרוסקופיה EELS ו- EDS ב STEM. עיבוד התוצאות.