 שנה"ל תשע"ה | |||||||||||||||||||||||||
 |
 |
||||||||||||||||||||||||
|
מיקרוסקופית אלקטרונים בחדירה Tem
Transmission Electron Microscopy |
0581-5233-01 | ||||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| הנדסה | תואר שני - מדע והנדסת חומרים | |||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||
ש"ס: 2.0
סילבוס מקוצר
משקל: 2
רקע, אופטיקת אלקטרונים, דיפרקציית אלקטרונים, מנגנוני קונטרסט, קונטרסט דיפרקצייה, קונטרסט פאזה, הולוגרפיית אלקטרונים, ניתוח תמונות. הימנעות משגיאות בניתוח, ניתוח כמותי, דוגמאות לאפיון חמרים ע"י מיקרוסקופיית אלקטרונים בחדירה.