 שנה"ל תש"ף | |||||||||||||||||||||||||
 |
 |
||||||||||||||||||||||||
|
מיקרוסקופית אלקטרונים בחדירה במדע חומרים
Transmission Electron Microscopy in Materials Science |
0581-4231-02 | ||||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| הנדסה | תואר שני - מדע והנדסת חומרים | |||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||
סילבוס לא הוזן - ראה בידיעון
|
שנה"ל תש"ף | |||||||||||||||||||||||||
|
|
|
||||||||||||||||||||||||
|
מיקרוסקופית אלקטרונים בחדירה במדע חומרים
Transmission Electron Microscopy in Materials Science |
0581-4231-02 | ||||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| הנדסה | תואר שני - מדע והנדסת חומרים | |||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||