| |||||||||||||||||||||||||
מיקרוסקופית אלקטרונים בחדירה במדע חומרים
Transmission Electron Microscopy in Materials Science |
0581-4231-01 | ||||||||||||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
הנדסה | תואר שני - מדע והנדסת חומרים | |||||||||||||||||||||||||
|
פרופ' עמית כהן, המחלקה למדע והנדסה של חומרים
שם הקורס:
מיקרוסקופית אלקטרונים בחדירה במדע חומרים
Transmission Electron Microscopy in Materials Science
היקף הוראה: שלוש שעות הוראה בשבוע
דרישות קדם:
0509.1829 פיזיקה 2
0581.2111 מבוא למדע והנדסת חומרים
0581.2191 מבוא לגלים ולמוליכים למחצה
סילבוס:
רקע; אופטיקת אלקטרונים (מקורות אלקטרונים, עדשות אלקטרוסטטיות ואלקטרומגנטיות, גלאים), רכיבי המיקרוסקופ; אברציות והגדרת רזולוציה לטרלית; דיפרקציית אלקטרונים; מנגנוני קונטרסט: מסה-עובי, דיפרקצייה; פונקציית העברת הקונטרסט (contrast transfer function)של המיקרוסקופ ופונקציית העברת המודולציה (modulation transfer function) של הגלאי; קונטרסט פאזה (High resolution) ; תיקון אברציה ספרית והשלכות לקונטרסט פאזה; הכנת דגמים; סקירת מבוא למיקרוסקופית אלקטרונים בחדירה אנליטי
Introduction; Electron optics (electron sources, electrostatic and electromagnetic lenses, detectors), components of the microscope; Aberrations and definition of spatial resolution; Electron diffraction; Contrast mechanisms: mass-thickness, diffraction; Contrast transfer function of the microscope and Modulation transfer function of the detectors; Phase (high-resolution) contrast; Aberration correction and implications to phase contrast; sample preparation; Introductory survey of analytical TEM