חיפוש חדש  חזור
מידע אישי לתלמיד

שנה"ל תשע"ט

  מיקרוסקופית אלקטרונים בחדירה במדע חומרים
  Transmission Electron Microscopy in Materials Science                                                
0581-4231-01
הנדסה | תואר שני - מדע והנדסת חומרים
סמ'  א'1300-1600120וולפסון - הנדסהשיעור פרופ כהן עמית
ש"ס:  3.0

סילבוס מפורט

הנדסה | תואר שני - מדע והנדסת חומרים
0581-4231-01 מיקרוסקופית אלקטרונים בחדירה במדע חומרים
Transmission Electron Microscopy in Materials Science
שנה"ל תשע"ט | סמ'  א' | פרופ כהן עמית

666סילבוס מפורט/דף מידע

פרופ' עמית כהן, המחלקה למדע והנדסה של חומרים

 

שם הקורס:

מיקרוסקופית אלקטרונים בחדירה במדע חומרים

Transmission Electron Microscopy in Materials Science

 

היקף הוראה: שלוש שעות הוראה בשבוע

 

דרישות קדם:

0509.1829 פיזיקה 2

0581.2111 מבוא למדע והנדסת חומרים

0581.2191  מבוא לגלים ולמוליכים למחצה

 

סילבוס:

רקע; אופטיקת אלקטרונים (מקורות אלקטרונים, עדשות אלקטרוסטטיות ואלקטרומגנטיות, גלאים), רכיבי המיקרוסקופ; אברציות והגדרת רזולוציה לטרלית; דיפרקציית אלקטרונים; מנגנוני קונטרסט: מסה-עובי, דיפרקצייה; פונקציית העברת הקונטרסט  (contrast transfer function)של המיקרוסקופ ופונקציית העברת המודולציה (modulation transfer function) של הגלאי; קונטרסט פאזה (High resolution) ; תיקון אברציה ספרית והשלכות לקונטרסט פאזה; הכנת דגמים; סקירת מבוא למיקרוסקופית אלקטרונים בחדירה אנליטי

 

Introduction; Electron optics (electron sources, electrostatic and electromagnetic lenses, detectors), components of the microscope; Aberrations and definition of spatial resolution; Electron diffraction; Contrast mechanisms: mass-thickness, diffraction; Contrast transfer function of the microscope and Modulation transfer function of the detectors; Phase (high-resolution) contrast; Aberration correction and implications to phase contrast; sample preparation; Introductory survey of analytical TEM

להצהרת הנגישות


אוניברסיטת ת